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Photostrom-Spektroskopie von Silicium: Charakterisierung von Eisen kontaminiertem Silicium und Isolator/Silicium-Strukturen mit dem Elymat-Verfahren (German)

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Book Details

Contributors
Author Mathias Rommel
Dimensions
Weight 362 g
Format
Binding Paperback
Overview
Number of Pages 232 Pages
Publisher Vdm Verlag
Publication Year 2008
ISBN-13 9783836490887
ISBN-10 3836490889
Language German
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